A所有組分峰變小 可能原因 建議措施
1.進樣針缺陷 使用新針或無缺陷的針
2.進樣后漏夜 判斷漏夜點，維修之
3.MAE UP過大：分流比過大 調整氣體流速和分流比
4.分析物質分子量過大，底揮發(fā)樣品時 提高INJ。OVEN（主要柱子的最高使
樣品的汽化溫度過低，或柱溫度低 用溫度）
5 NPD被污染物（二氧化硅）覆蓋 更換銣珠
6.NPD溫度過高（使用或環(huán)境溫度），氣體不純 更換銣珠：避免高溫使用
7.不分流進樣，分流閥關閉快：初始OVEN溫高
8 檢測器與樣品不匹配
9.樣品的揮發(fā) 調整樣品的的濃度或選擇合適的溶劑
B峰伸舌
峰伸舌多由色譜柱過載 減小進樣量(可能需提高儀器的sensitivty
使用大容量柱子：提高OVEN，INJ溫度：
增大氣體流速
C峰高峰面積不重復
1.進樣不重復，偏差大 自動進樣器：加強手動進樣的練習
2.其他峰型變化引起的峰錯位，干擾
3.基線的干擾
儀器系統參數設定的改變 參數標準化，規(guī)范化
D負 峰
1 Detector有數據處理系統信號極性接反 信號連接倒置
2 TCD中，樣品導熱系數大于載氣導熱系數 選擇數據處理中的“負峰處理”
3 ECD被污染，可能在正峰后跟隨負峰 清洗ECD，更換之（若有必要）
E樣品的檢測靈敏度下降
1.色譜柱，襯管被污染，使活性物質靈敏度小將 清洗襯管：用溶劑（優(yōu)級純甲醇）清洗色譜柱：更換之（如有必要）
2.進樣時樣品滲漏（對易揮發(fā)物質更甚） 查找滲漏點
3 在splite汽化進樣中，OVEN初始溫度過高 用低于樣品溶劑的初始溫度；致使樣品汽化后擴散加劇，導致撕沸點樣品靈敏度下降 使用高沸點溶劑
F 峰分叉
1 進樣過激，不穩(wěn)定，形成二次進樣 練習手動進樣：使用自動進樣器
2.色譜柱安裝失敗 重新安裝
3 spliteless或柱頭進樣，樣品溶劑的混合 使用相同的溶劑
4.柱子溫度波動 修理穩(wěn)控系統
5 spliteless進樣，量大，時間長。希望用“溶劑 在毛細管色譜柱前端安裝5米的去
效應“譜帶濃縮時，溶劑的固定相的濕潤性差 活化，未覆蓋固定液的毛細管
溶劑將在柱子中形成幾米長，厚度不等的溶劑帶
破壞正常的濃縮，使峰拉寬分叉
J 峰拖尾
1.襯管，色譜柱被污染；有活性點 清洗，更換之 （如有必要）
2.襯管，色譜柱安裝不黨，存在死體積 注射甲烷，峰若拖尾，則重新安裝
3.色譜柱柱頭不平 用金剛砂切割，使之平
4.固定相的極性指標與樣品分析不匹配 換匹配的柱子
5 樣品流通路線中有冷井 消除路線中的過低溫度區(qū)
6.襯管或色譜柱中有堆積切割碎屑 清洗更換襯管；切除柱頭10cm
7 進樣時間過長 縮短之
8.分流比低 增大分流比（至少大于20/1）
9.進樣量過高 減小進樣體積或稀釋樣品
10 醇胺，伯胺，叔胺和羧酸類易拖尾 用極性大的色譜柱；樣品衍生處理
H保留時間漂移
1 溫度變化 檢查柱溫箱的溫度
2.氣體流速變化 注射甲烷，測定載氣線速度
3.進樣口泄露 檢查進樣墊；判斷其他泄露處
4.溶劑條件變化 樣品，標準品使用相同的溶劑
5.色譜柱被污染 切除柱頭10cm；高溫老化，清洗
I分離度下降
1.色譜柱被污染 方法同上
2 固定相被破壞（柱流失） 更換之
3 進樣失敗 檢查泄露，維修之檢查吹掃時間
檢查溫度的適應性；檢查襯管
4.樣品濃度過高 稀釋；減少進樣量；用高分流比
H溶劑峰拉寬
1.色譜柱安裝失敗
2.進樣滲漏
3.進樣量高 提高汽化溫度
4.流比低 提高分流比
5OVEN低
6 分流進樣時，初始OVEN過高 降低初始柱溫，使用高沸點溶劑
7.吹掃時間過長（不分流進樣） 定義短時間的吹掃程序
基線問題
A基線向下漂移
1 新安裝的柱子，基線連續(xù)向漂移幾分鐘 繼續(xù)老化
2 檢測器未達到平衡 延長檢測器的平衡時間
3 檢測器或GC系統中其他部分有沉積物被烤出來 清洗之
B 基線向上漂移
1.色譜柱固定相被破壞
2 載氣流速下降 調整載氣壓力；清洗壓力和流量調節(jié)閥
C噪音
1.毛細管末插入檢測器太深 重新安裝色譜柱
2 使用ECD，TCD氣體泄露引發(fā)基線噪音 檢查，維修氣路
3 FID ，NPD ，FPD燃氣流速或燃氣選擇不當 高純燃氣，調整流速
4.進樣口被污染 清洗進樣口；更換擱墊；更襯管中的玻璃纖維或硅烷化
5.毛細管色譜柱被污染 切除首端10cm；用溶劑清洗色譜柱；更換之
6.檢測器發(fā)生故障 維修，更換之
7.檢測器電路發(fā)生故障 聯系生產商或維修機構（專業(yè)）
D Offset(基線位置的突然改變
1.電源電壓波動 使用穩(wěn)壓器
2 電路接口處連接不好 檢查，清洗其接口處，擰緊接口
3.進樣口被污染
4.色譜柱被污染
5.毛細管末端插入檢測器太深
6 檢測器被污染
E毛刺
1 電磁干擾 關閉電磁干擾源
2.顆粒污染進入檢測器
3.氣路密封松動，氣體泄露 擰緊松動的密封
4.檢測器內部電路接口或輸入，輸出信號接口松動 檢查，清洗，擰緊接口，更換之
積塵或被腐蝕
F Wander（低頻率的噪音）
1.溫度，壓力等環(huán)境條件的波動 找到環(huán)境因素變化與基線的關系，然后穩(wěn)定之
2.溫度控制漂移 測量檢測器的溫度
3 載氣中含雜質（溫度穩(wěn)定時） 更換載氣或氣體凈化器
4.進樣口被污染
5.毛細管被污染
6.氣體流速控制失靈 清洗或更換氣體
1.進樣針缺陷 使用新針或無缺陷的針
2.進樣后漏夜 判斷漏夜點，維修之
3.MAE UP過大：分流比過大 調整氣體流速和分流比
4.分析物質分子量過大，底揮發(fā)樣品時 提高INJ。OVEN（主要柱子的最高使
樣品的汽化溫度過低，或柱溫度低 用溫度）
5 NPD被污染物（二氧化硅）覆蓋 更換銣珠
6.NPD溫度過高（使用或環(huán)境溫度），氣體不純 更換銣珠：避免高溫使用
7.不分流進樣，分流閥關閉快：初始OVEN溫高
8 檢測器與樣品不匹配
9.樣品的揮發(fā) 調整樣品的的濃度或選擇合適的溶劑
B峰伸舌
峰伸舌多由色譜柱過載 減小進樣量(可能需提高儀器的sensitivty
使用大容量柱子：提高OVEN，INJ溫度：
增大氣體流速
C峰高峰面積不重復
1.進樣不重復，偏差大 自動進樣器：加強手動進樣的練習
2.其他峰型變化引起的峰錯位，干擾
3.基線的干擾
儀器系統參數設定的改變 參數標準化，規(guī)范化
D負 峰
1 Detector有數據處理系統信號極性接反 信號連接倒置
2 TCD中，樣品導熱系數大于載氣導熱系數 選擇數據處理中的“負峰處理”
3 ECD被污染，可能在正峰后跟隨負峰 清洗ECD，更換之（若有必要）
E樣品的檢測靈敏度下降
1.色譜柱，襯管被污染，使活性物質靈敏度小將 清洗襯管：用溶劑（優(yōu)級純甲醇）清洗色譜柱：更換之（如有必要）
2.進樣時樣品滲漏（對易揮發(fā)物質更甚） 查找滲漏點
3 在splite汽化進樣中，OVEN初始溫度過高 用低于樣品溶劑的初始溫度；致使樣品汽化后擴散加劇，導致撕沸點樣品靈敏度下降 使用高沸點溶劑
F 峰分叉
1 進樣過激，不穩(wěn)定，形成二次進樣 練習手動進樣：使用自動進樣器
2.色譜柱安裝失敗 重新安裝
3 spliteless或柱頭進樣，樣品溶劑的混合 使用相同的溶劑
4.柱子溫度波動 修理穩(wěn)控系統
5 spliteless進樣，量大，時間長。希望用“溶劑 在毛細管色譜柱前端安裝5米的去
效應“譜帶濃縮時，溶劑的固定相的濕潤性差 活化，未覆蓋固定液的毛細管
溶劑將在柱子中形成幾米長，厚度不等的溶劑帶
破壞正常的濃縮，使峰拉寬分叉
J 峰拖尾
1.襯管，色譜柱被污染；有活性點 清洗，更換之 （如有必要）
2.襯管，色譜柱安裝不黨，存在死體積 注射甲烷，峰若拖尾，則重新安裝
3.色譜柱柱頭不平 用金剛砂切割，使之平
4.固定相的極性指標與樣品分析不匹配 換匹配的柱子
5 樣品流通路線中有冷井 消除路線中的過低溫度區(qū)
6.襯管或色譜柱中有堆積切割碎屑 清洗更換襯管；切除柱頭10cm
7 進樣時間過長 縮短之
8.分流比低 增大分流比（至少大于20/1）
9.進樣量過高 減小進樣體積或稀釋樣品
10 醇胺，伯胺，叔胺和羧酸類易拖尾 用極性大的色譜柱；樣品衍生處理
H保留時間漂移
1 溫度變化 檢查柱溫箱的溫度
2.氣體流速變化 注射甲烷，測定載氣線速度
3.進樣口泄露 檢查進樣墊；判斷其他泄露處
4.溶劑條件變化 樣品，標準品使用相同的溶劑
5.色譜柱被污染 切除柱頭10cm；高溫老化，清洗
I分離度下降
1.色譜柱被污染 方法同上
2 固定相被破壞（柱流失） 更換之
3 進樣失敗 檢查泄露，維修之檢查吹掃時間
檢查溫度的適應性；檢查襯管
4.樣品濃度過高 稀釋；減少進樣量；用高分流比
H溶劑峰拉寬
1.色譜柱安裝失敗
2.進樣滲漏
3.進樣量高 提高汽化溫度
4.流比低 提高分流比
5OVEN低
6 分流進樣時，初始OVEN過高 降低初始柱溫，使用高沸點溶劑
7.吹掃時間過長（不分流進樣） 定義短時間的吹掃程序
基線問題
A基線向下漂移
1 新安裝的柱子，基線連續(xù)向漂移幾分鐘 繼續(xù)老化
2 檢測器未達到平衡 延長檢測器的平衡時間
3 檢測器或GC系統中其他部分有沉積物被烤出來 清洗之
B 基線向上漂移
1.色譜柱固定相被破壞
2 載氣流速下降 調整載氣壓力；清洗壓力和流量調節(jié)閥
C噪音
1.毛細管末插入檢測器太深 重新安裝色譜柱
2 使用ECD，TCD氣體泄露引發(fā)基線噪音 檢查，維修氣路
3 FID ，NPD ，FPD燃氣流速或燃氣選擇不當 高純燃氣，調整流速
4.進樣口被污染 清洗進樣口；更換擱墊；更襯管中的玻璃纖維或硅烷化
5.毛細管色譜柱被污染 切除首端10cm；用溶劑清洗色譜柱；更換之
6.檢測器發(fā)生故障 維修，更換之
7.檢測器電路發(fā)生故障 聯系生產商或維修機構（專業(yè)）
D Offset(基線位置的突然改變
1.電源電壓波動 使用穩(wěn)壓器
2 電路接口處連接不好 檢查，清洗其接口處，擰緊接口
3.進樣口被污染
4.色譜柱被污染
5.毛細管末端插入檢測器太深
6 檢測器被污染
E毛刺
1 電磁干擾 關閉電磁干擾源
2.顆粒污染進入檢測器
3.氣路密封松動，氣體泄露 擰緊松動的密封
4.檢測器內部電路接口或輸入，輸出信號接口松動 檢查，清洗，擰緊接口，更換之
積塵或被腐蝕
F Wander（低頻率的噪音）
1.溫度，壓力等環(huán)境條件的波動 找到環(huán)境因素變化與基線的關系，然后穩(wěn)定之
2.溫度控制漂移 測量檢測器的溫度
3 載氣中含雜質（溫度穩(wěn)定時） 更換載氣或氣體凈化器
4.進樣口被污染
5.毛細管被污染
6.氣體流速控制失靈 清洗或更換氣體
