薄膜厚度測試儀,思克測試

濟(jì)南思克測試技術(shù)有限公司：品牌【SYSTESTER】

測厚儀（又稱薄膜厚度測試儀,思克測試,紙張測厚儀,芯片測厚儀等）

檢測范圍：0～2mm（常規(guī)）0～6mm；12mm（可選）

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353

薄膜厚度測試儀,思克測試適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

測厚儀

薄膜厚度測試儀,思克測試技術(shù)指標(biāo)：

測量范圍：0～2mm（常規(guī)）

                  0～6mm；12mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測量速度：25次/min（可調(diào)）

測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）

接觸面積：50mm²（薄膜）；200mm²（紙張）

注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制

薄膜厚度測試儀,思克測試產(chǎn)品特點(diǎn)：

32位嵌入式系統(tǒng)控制技術(shù)

扁平化設(shè)計，直觀，操作方便

觸摸屏操作

所有操作均可在一個平面內(nèi)完成，無須進(jìn)入退出操作

TFT真彩色液晶顯示

接觸式厚度測量

測試過程自動化完成

手動、自動雙重測量模式

可采用標(biāo)準(zhǔn)厚度計量工具標(biāo)定、檢驗

符合GB，ASTM等多種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)接觸面積、測量壓力（可定制）

內(nèi)嵌大值、小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差等數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能

量程可調(diào)（可根據(jù)要求定制）

配置微型打印機(jī)，可自動打印試驗數(shù)據(jù)

配置標(biāo)準(zhǔn)RS232通信口，利用專業(yè)計算機(jī)軟件可大限度地挖掘試驗數(shù)據(jù)價值

可支持以太網(wǎng)通信，方便數(shù)據(jù)聯(lián)網(wǎng)（選購）

可支持DSM實(shí)驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）
       注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與終解釋權(quán)！ 

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